在工業(yè)中的危害：靜電的產(chǎn)生在工業(yè)生產(chǎn)中是不可避免的，其造成的危害主要可歸結(jié)為以下兩種機(jī)理：
1、靜電放電(ESD)造成的危害：引起電子設(shè)備的故障或誤動(dòng)作，造成電磁干擾。
2、擊穿集成電路和精密的電子元件，或者促使元件老化，降低生產(chǎn)成品率。
3、高壓靜電放電造成電擊，危及人身安全。
4、在多易燃易爆品或粉塵、油霧的生產(chǎn)場所極易引起爆炸和火災(zāi)。
5、靜電引力(ESA)造成的危害：電子工業(yè)：吸附灰塵，造成集成電路和半導(dǎo)體元件的污染，大大降低成品率。
6、靜電對LED燈珠的危害，因瞬間的電場或電流產(chǎn)生的熱，使LED燈珠局部受傷，表現(xiàn)為漏電流迅速增加，仍能工作，但亮度降低(白光將會(huì)變色)，壽命受損。
7、因電場或電流損壞LED燈珠的絕緣層，導(dǎo)致LED燈珠出現(xiàn)損壞，無法工作，主要表現(xiàn)為死燈。
靜電測試方法：
般情況下，靜電測試分為兩種方式，一種為接觸靜電測試，另-一種是非接觸靜電測試，通常電子元器件的接觸防靜電電壓值要低于非接觸防靜電電壓值。工業(yè)防靜電標(biāo)準(zhǔn):接觸防靜電電壓6kV,非接觸防靜電電壓8kV.
靜電測試前的準(zhǔn)備工作: 連接好準(zhǔn)備測試的設(shè)備，確保測試前的設(shè)備是正常運(yùn)行的。
連接好靜電放電測試儀，確保測試儀的地線與設(shè)備的地線相互連接，形成放電回路。
接觸式靜電
測試項(xiàng)目包括設(shè)備機(jī)箱外殼，電源接口，控制接口，以及通訊接口等。
測試電壓標(biāo)準(zhǔn)，測試靜電電壓從2kV開始增加，每次增加2kV，直到20kV為止，即測試靜電電壓分別為2kV,4kV, 6kV, 8kV, 10kV, 12kV, 14kV, 16kV, 18 kV, 20kV。測試頻率標(biāo)準(zhǔn)，測試放電分為兩種頻率，但放電次數(shù)均為10次。一種頻率是1秒鐘放電1次，連續(xù)放電10次，為低頻靜電放電測試;另-種頻率是0.1秒鐘放電1次，連續(xù)放電10次，為高頻靜電放電測試。測試通過標(biāo)準(zhǔn)，硬件無任何損壞，通訊正常，數(shù)據(jù)無錯(cuò)誤，丟失等情況。測試停止標(biāo)準(zhǔn)，在測試某一項(xiàng)目時(shí)，如果硬件發(fā)生損壞，通訊異常或其他任何不正常的情況，測試將不向更高標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行，而只統(tǒng)計(jì)當(dāng)前測試結(jié)果。測試轉(zhuǎn)為下一項(xiàng)。為提高測試精度，也可以在測試設(shè)備出現(xiàn)異常情況時(shí)，先調(diào)低靜電電壓1kV進(jìn)行測試，如果測試通過,則調(diào)高靜電電壓0.5kV進(jìn)行測試，如果測試不通過，則繼續(xù)調(diào)低靜電電壓0.5kV進(jìn)行測試，依次類推，調(diào)節(jié)幅度不斷減小為0.25kV, 0.125 kV等，直到精度達(dá)到要求為止，統(tǒng)計(jì)臨界靜電電壓測試結(jié)果，
 測試順序標(biāo)準(zhǔn)，測試順序?yàn)橄却_定電壓，再確定頻率。電壓由低到高，頻率由慢到快。即依次為2kV低頻測試，2kV高頻測試，4kV低頻測試，4kV高頻測試，直到20kV低頻測試，20kV高頻測試。在提高精度測試過程中也同樣遵循先確定電壓，再確定頻率這一原則測試數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)，測試某一項(xiàng)目時(shí)，在某一電壓和頻率下，如果連續(xù)20次測試通過，即判定在當(dāng)前狀態(tài)下，系統(tǒng)工作正常:否則統(tǒng)計(jì)連續(xù)20次測試過程中出錯(cuò)的次數(shù)，計(jì)算出錯(cuò)的概率，填入測試數(shù)據(jù)報(bào)表中。測試方法標(biāo)準(zhǔn)，先將靜電槍對準(zhǔn)被測試項(xiàng)目(如:機(jī)箱，各個(gè)接口)，移動(dòng)靜電槍至被測試項(xiàng)目的表面，要求靜電槍與被測試項(xiàng)目的表面保持垂直且接觸，扣動(dòng)靜電槍扳機(jī)，待10次放電全部結(jié)束后，松開靜電槍扳機(jī)，將靜電槍從被測試項(xiàng)目表面移開，準(zhǔn)備下一次測
非接觸式靜電：
測試項(xiàng)目包括設(shè)備機(jī)箱外殼，電源接口，控制接口，以及通訊接口等。
測試電壓標(biāo)準(zhǔn)，測試靜電電壓從2kV開始增加，每次增加2kV,直到20kV為止，即測試靜電電壓分別為2kV,4kV, 6kV, 8kV, 10kV, 12kV, 14kV, 16kV, 18 kV, 20kV.測試通過標(biāo)準(zhǔn)，硬件無任何損壞，通訊正常，數(shù)據(jù)無錯(cuò)誤，丟失等情況。
測試停止標(biāo)準(zhǔn)，在測試某一項(xiàng)目時(shí)，如果硬件發(fā)生損壞，通訊異常或其他任何不正常的情況，測試將不向更高標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行，而只統(tǒng)計(jì)當(dāng)前測試結(jié)果。測試轉(zhuǎn)為下一項(xiàng)。為提高測試精度，也可以在測試設(shè)備出現(xiàn)異常情況時(shí)，先調(diào)低靜電電壓1kV進(jìn)行測試，如果測試通過，則調(diào)高靜電電壓0.5kV進(jìn)行測試，如果測試不通過，則繼續(xù)調(diào)低靜電電壓0.5kV進(jìn)行測試，依次類推，調(diào)節(jié)幅度不斷減小為0.25kV, 0.125 kV等，直到精度達(dá)到要求為止。
測試順序標(biāo)準(zhǔn)，測試順序?yàn)殡妷河傻偷礁摺＜匆来螢?kV測試，4kV測試,6kV測試，直到20kV測試。測試數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)，測試某--項(xiàng)目時(shí)， 在某--電壓下，如果連續(xù)20次測試通過，即判定在當(dāng)前狀態(tài)下，系統(tǒng)工作正常;否則統(tǒng)計(jì)連續(xù)20次測試過程中出錯(cuò)的次數(shù)，計(jì)算出錯(cuò)的概率，填入測試數(shù)據(jù)報(bào)表中。測試方法標(biāo)準(zhǔn)，先將靜電槍對準(zhǔn)被測試項(xiàng)目(如:機(jī)箱，各個(gè)接口)且相隔5厘米以上，扣動(dòng)靜電槍扳機(jī)，移動(dòng)靜電槍靠近被測試項(xiàng)目的表面，移動(dòng)過程中要求靜電槍與被測試項(xiàng)目的表面保持垂直，待空氣放電結(jié)束后，將靜電槍從被測試項(xiàng)目表面移開，松開靜電槍扳機(jī)，準(zhǔn)備下一次測試。
注意:1.測試過程中，某元器件測試結(jié)果會(huì)因?yàn)樵骷€(gè)體差異而有所不同，如保險(xiǎn)，二極管等，這就需要對不同的元器件進(jìn)行多次測量，求出所有元器件測試結(jié)果的平均值作為最終的測試結(jié)果。
測試過程中，一般情況下，不能直接對芯片進(jìn)行靜電放電。如有特殊需要，一定要對某芯片進(jìn)行靜電放電測試時(shí)，應(yīng)盡量減小每次靜電增加的幅度，這樣可以更好的測試出防靜電電壓真實(shí)值的接近值，使測試更加準(zhǔn)確。
測試過程中，為保障測試結(jié)果的準(zhǔn)確性，每次靜電放電結(jié)束后到下次靜電放電開始前的時(shí)間間隔不能太小，要留給系統(tǒng)足夠的恢復(fù)時(shí)間，即要留夠系統(tǒng)電荷釋放的時(shí)間，時(shí)間間隔一般為10秒鐘。待系統(tǒng)電荷充分釋放后,才能進(jìn)行下一次測試。
參考標(biāo)準(zhǔn)：
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最新認(rèn)證培訓(xùn)參考標(biāo)準(zhǔn)
國際標(biāo)準(zhǔn) IEC61340-5-1:2007
美國標(biāo)準(zhǔn)ANSI/ESDS20.20-2007
中國標(biāo)準(zhǔn)GJB3007-2009
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)SJ/T10694-2006(中國行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)FLOMCESD 標(biāo)準(zhǔn))
就認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)而言，目前歐美流行的ESD體系有IEC、EIA、ESDA以及IPC四大類，其中IPC的ESD標(biāo)準(zhǔn)實(shí)際上是ESDA和EIA標(biāo)準(zhǔn)的引用，所以嚴(yán)格意義上流行的體系是三類。 |
